光栅推扫采用一种全新的成像技术，通过推扫或调谐波长实现图像与光谱的合二为一，改变了传统光谱仪或相机获取数据单一的缺点，为用户提供了一种全新的分析手段。

 

光栅推扫特性描述：

可同时获取影响及光谱信息；

多种波长范围及波长分辨率，供用户根据实际需求弹性选择；

体积简介架构牢固，适合工业及科研研究应用；

采用高衍射效率的体全息相位光栅；

低散光低失真高信噪比。

 

光栅推扫适合动态应用，目前机载成像光谱仪多使用推扫式成像，地面和现场也使用这种成像方式。这种成像方式是：CCD传感器面阵的一维用于记录待测物体的空间信息（通常是一行），使用衍射光学元件（如光栅）对入射光进行色散，并把不同波长的光头引导CCD传感器的不同部分上，这样，CCD传感器的第二维就成了光谱维，通过推扫式逐行扫描，就可以获得第二空间量的信息，通过软件后续处理就可以获得图像立方体图片。这种成像技术实际上是把光谱仪的入射狭缝平行于光谱轴和一个空间轴，CCD传感器面阵一次性获取一条线阵上的全波段的光谱信息。

 

光栅推扫测量速度非常快，可用于在线分析，具有现场应用价值;微型化使得结构紧凑，抗震动，非专业人员易于掌握;选用通用探测器，成本也大大降低;其另一个优点在于系统的模块化和灵活性。